薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

　　超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

　　X射线测厚仪:利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。

　　1、X射线面密测量仪：用于对锂电池正极涂布的面密度（单位面积的重量）进行非接触式在线、β射线面密度测量仪：用于对锂电池负极涂布的面密度（单位面积的重量）进行非接触式在线、超软X射线面密度测量仪（隔膜面密度测量仪）：用于对锂电池隔膜的面密度（单位面积的重量）进行非接触式在线、微光斑X射线面密度测量仪：①实现两侧和头尾削薄区域的有效测量：可以给出极片两侧边缘和首尾两端的轮廓情况。②超小微光斑：测量点的尺寸小，检测区域精细，具有很高的空间响应能力和分辨能力，测量更加精细敏感，给出数据可反映出极片上的裂缝，刮痕，斑点等小的瑕疵缺陷。③特殊的与微光斑相匹配的射线探测器：经信噪比优化设计，提高射线探测效率，并配合多种环境测量传感器补偿环境影响，修正测量结果。

　　6、多架面密度测量仪同位测量系统：通过对扫描轨迹同位控制技术实现多架测量仪对同一轨迹的涂布面密度的精确测量，通过同位测量数据相减即可得到每次单面涂布或者双面面密度。适用于锂电池正、负极片连续单双面涂布精确测量。

　　开封市测控技术有限公司还生产其他矿用产品及电力监控和防越级跳闸方面的产品，详见公司网站产品介绍

　　主要包括检测各种几何量的精密仪器，如立式测角仪、激光干涉比长仪、经纬仪、三坐标测量机、圆度仪、轮廓仪和扫描隧道显微镜等测量仪器。

　　主要包括温度、湿度、压力、流量检测精密仪器，如各种气压计、真空计、多波长测温仪表、流量计和高度表等。

　　主要包括各种测力仪器、应变仪、加速度与速度测量仪、转矩测量仪、振动测量仪、万能材料实验机和布氏硬度计等。

　　主要用于测量各种电量和磁量，如电流表、电压表、功率表、电阻测量仪、电容测量仪、静电仪和磁参数测量仪等。

　　⑦光学与声学精密仪器主要包括光谱仪、光度计、色度计、激光参数测量仪、光学传递函数测量仪、噪声测量仪和声呐测量仪等。

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